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电子显微镜 >> 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
Bruker Dimension® Icon™原子力显微镜
Bruker Dimension® Icon™原子力显微镜图片
型号: Dimension® Icon™
品牌: 布鲁克
产地: 德国
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型号:Dimension® Icon™
品牌:布鲁克
产地:德国
仪器种类:原子力显微镜
样品台移动范围:180mm × 150mm可视区域
样品尺寸:210mm 真空吸盘样品台;夹具,直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
定位检测噪声:X-Y定位噪音(闭环):<0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
X-Y定位噪音(开环):<0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
产品介绍

AFM检测性能的全新定义
适合更宽应用领域的最高性能的大样品AFM成像
  对所有AFM样品提供最高性能的测量
  提供更广泛的AFM模式与应用
  提供定量的纳米材料性能图谱
  由创新的峰值力模式实现
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的AFM大样品平台为基础,齐集 Dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。

Dimension® Icon™优秀的图像分辨率,与Bruker特有的电子扫描算法相结合,显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业领先地位,最新的Dimension® Icon™是针尖扫描技术的又一次革新,配置温度补偿位置传感器,实现了Z轴亚埃级和XY轴埃级的低噪音水平,将其应用在90微米扫描范围的大样品台体系上,效果甚至优于高分辨小样品台AFM的开环噪音水平。全新设计的XYZ闭环扫描头,即使在较高的扫描速度工作时,也不会损坏图像质量,实现了更大的数据采集输出量。
终极体验
  独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有极高的扫描分辨率
  极大地降低噪声水平,在轻敲模式下低于30pm,接触模式下可获得原子级图像
  热漂移速率低于200pm/分钟,获得真正的样品图像
高效率
 
XYZ闭环扫描器的完美设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率
  将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
  高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置
全功能
  针尖和样品之间开放式的空间设计,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求
  硬件和软件技术的不断创新,新开发的HarmoniX 模式,可以测量纳米尺度上材料性质
  用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析
技术参数:

 X-Y scan range
 X-Y方向扫描范围
 90µm x 90µm typical, 85µm minimum
 90µm × 90µm 典型值,最小85µm
 Z range
 Z方向扫描范围
 10µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum
 在成像及力曲线模式下典型值为10μm;最小9.5μm
 Vertical noise floor
 垂直方向噪音基底
 < 30pm RMS in appropriate environment typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
 < 30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)
 X-Y position noise(closed-loop)
 X-Y定位噪音(闭环)
 ≤0.15nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
 ≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
 X-Y position noise(open-loop)
 X-Y定位噪音(开环)
 ≤0.10nm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz)
 ≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
 Z sensor noise level(closed-loop)
 Z传感器噪音水平(闭环)
 35pm RMS typical imaging bandwidth (up to 625Hz);
 50pm RMS, force curve bandwidth (0.1Hz to 5kHz)
 35pm RMS,典型成像带宽(达到625Hz);
 50pm RMS,力曲线成像带宽(0.1Hz to 5kHz)
 Integral nonlinearity(X-Y-Z)
 整体线性误差(X-Y-Z)
 < 0.5% typical
 < 0.5% 典型值
 Sample size/holder
 样品尺寸/夹具
 210mm vacuum chuck for samples, ≤210mm diameter, ≤15mm thick
 210mm 真空吸盘样品台;夹具,直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
 Motorized position stage
 (X-Y axis)

 电动定位样品台(X-Y轴)
 180mm × 150mm inspectable area;
 2µm repeatability, unidirectional;
 3µm repeatability, bidirectional
 180mm × 150mm可视区域;
 单向2µm重复性;
 双向3µm重复性
 Microscope optics


 显微镜光学系统
 5-megapixel digital camera;
 180µm to 1465µm viewing area;
 Digital zoom and motorized focus
 五百万像素数字照相机;
 180µm至1465µm可视范围;
 数字缩放及自动对焦功能
 Controller
 控制器
 NanoScope V
 NanoScope V型控制器
 Workstation

 工作站
 Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical
 and visual access
 整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视接口
 Vibration isolation
 振动隔绝
 Integrated, pneumatic
 整体式气动减震台
 Acoustic isolation
 声音隔绝
 Operational in environments with up to 85dBC continuous acoustic noise
 可隔绝环境中85 dBC的持续噪音
 AFM modes
 AFM模式
 Standard: ScanAsyst, PeakForce Tapping, TappingMode (air), Contact Mode, Lateral
 Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM, Force Spectroscopy, Force Volume,
 EFM, Surface Potential, Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy;
 Optional: PeakForce QNM, HarmoniX, Nanoindentation, Nanomanipulation,
 Nanolithograpy, Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid), Torsional
 Resonance Mode, Dark Lift, STM, SCM, C-AFM, SSRM, PeakForce TUNA,TUNA,
TR-TUNA, VITA
 Certification
 认证
 CE

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