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电子显微镜 >> 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
Bruker Dimension® FastScan™原子力显微镜
Bruker Dimension® FastScan™原子力显微镜图片
型号: Dimension® FastScan™
品牌: 布鲁克
产地: 德国
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型号:Dimension® FastScan™
品牌:布鲁克
产地:德国
仪器种类:原子力显微镜
样品台移动范围:180mm × 150mm可视区域
样品尺寸:210mm 真空吸盘样品台;夹具,直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
定位检测噪声:X-Y定位噪音(闭环):<0.20nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
产品介绍

世界最高效的原子力显微镜性能的新标杆

  Dimension FastScan System Configuration:
  (1) Acoustic and Vibration Isolation Enclosure;
  (2) Scanners;
  (3) Ultra-Stable High-Resonance Microscope Base;
  (4) 30” Monitor and FastScan NanoScope Software;
  (5) Computer;
  (6) NanoScope V, Stage Controller and H

  ·对所有AFM样品提供终极性能测量
  ·更快的呈现高质量数据
  ·提供定量的纳米材料性能图谱
  ·由创新的峰值力模式实现

Dimension FastScan™ 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 
为提高AFM使用效率和检测性能,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加操作复杂性,不影响仪器使用成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数为扫描速度 > 125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像,都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 
卓越的仪器检测性能
  ·在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍,自动激光调节和检测器调节,智能进针,大大缩短了实验时间。
  ·自动测量软件和高速扫描系统完美结合,大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。
无与伦比的测量分辨率
  ·Fastscan精确的力控制模式提高了图像分辨率的同时,延长了探针的使用寿命。
  ·扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像,扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
  ·低噪音,温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
全面的测试功能,适用于各类AFM样品
  ·闭环控制的Icon和FastScan的扫描器极大的降低了Z方向噪音,使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm,具有超低的热漂移率,可得到超高分辨的真实图像。
  ·Fast Scan可以对不同样品进行测量,保证扫描过程中从埃级到0.1μm的高精度无失真扫描。
不论您选择Icon扫描器获得超低噪音和超高分辨率的图像,还是选择Dimension FastScan AFM的扫描器进行高速扫描检测,Dimension FastScan AFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到最大程度,实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。
技术参数:

 Parameter Icon AFM Scanner FastScan AFM Scanner
 X-Y scan range
 X-Y方向扫描范围
 90µm x 90µm typical, 85µm minimum
 90µm × 90µm 典型值,最小85µm
 35μm x 35μm typical, 30μm minimum
 35µm × 35µm 典型值,最小30µm
 Z range
 Z方向扫描范围
 10µm typical in imaging and force curve modes,
 9.5µm minimum
 在成像及力曲线模式下典型值为10μm;最小9.5μm
 ≥3μm
 Vertical noise floor
 垂直方向噪音基底
 <30pm RMS in appropriate environment typical
 imaging BW (up to 625Hz)
 <30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz)
 < 40pm RMS, sensor in appropriate
 environment (up to 625Hz)
 < 40pmRMS, 在合适的环境(达到625Hz)
 X-Y tip-velocity max.
 (1% tracking error)
  >2mm/Sec
 Z tip-velocity max.  12mm/Sec
 X-Y position noise
(closed-loop)
 X-Y定位噪音(闭环)
 ≤0.15nm RMS typical imaging BW (up to 625Hz)
 ≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
 ≤0.20nm RMS typical imaging BW
 (up to 2.5kHz in Adaptive)
 ≤0.20nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
 X-Y position noise
(open-loop)
 X-Y定位噪音(开环)
 ≤0.10nm RMS typical imaging BW (up to 625Hz)
 ≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
 
 Z sensor noise level
(closed-loop)
 Z传感器噪音水平(闭环)
 35pm RMS typical imaging BW (up to 625Hz);
 50pm RMS, force curve BW (0.1Hz to 5kHz)
 35pm RMS,典型成像带宽(达到625Hz);
 50pm RMS,力曲线成像带宽(0.1Hz to 5kHz)
 30pm RMS typical imaging BW (up to 625Hz)
 30pm RMS,典型成像带宽(达到625Hz)
 Integral nonlinearity(X-Y-Z)
 整体线性误差(X-Y-Z)
 <0.5% typical
 <0.5% 典型值
 ≤0.5% typical
 ≤0.5% 典型值
 Sample size/holder
 样品尺寸/夹具
 210mm vacuum chuck for samples, ≤210mm diameter, ≤15mm thick
 210mm 真空吸盘样品台;夹具,直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
 Motorized position stage
 (X-Y axis)
 电动定位样品台(X-Y轴)
 180mm × 150mm inspectable area; (180mm × 150mm可视区域;)
 2µm repeatability, unidirectional; (单向2um重复性;)
 3µm repeatability, bidirectional (双向3um重复性)
 Microscope optics
 显微镜光学系统
 5-megapixel digital camera;
 180µm to 1465µm viewing area;
 Digital zoom and motorized focus
 五百万像素数字照相机;
 180 µm 至 1465 µm 可视范围;
 数字缩放及自动对焦功能
 5-megapixel digital camera;
 130µm to 1040µm viewing area;
 Digital zoom and motorized focus
 五百万像素数字照相机;
 130 µm 至 1040 µm 可视范围;
 数字缩放及自动对焦功能
 Controller
 控制器
 NanoScope V / NanoScope v8.15 and later
 NanoScope V型控制器
 Workstation
 工作站
 Integrates all controllers and provides ergonomic design with immediate physical
and visual access
 整合所有控制器、结合人体工学设计,提供直接的物理或可视接口
 Vibration and Acoustic
 isolation
 振动隔绝 与 声音隔绝
Integrated, refer to installation requirements for additional information
 AFM modes
 AFM模式
 Standard: ScanAsyst, PeakForce Tapping,
 TappingMode (air), Contact Mode, Lateral
 Force Microscopy, PhaseImaging, Lift Mode, MFM,
 Force Spectroscopy, Force Volume, EFM, Surface
 Potential, Piezoresponse Microscopy, Force
 Spectroscopy;
 Optional:
PeakForce QNM, HarmoniX,
 Nanoindentation, Nanomanipulation, Nanolithograpy,
 Force Modulation (air/fluid), TappingMode (fluid),
 Torsional Resonance Mode, Dark Lift,
 STM, SCM, C-AFM, SSRM, PeakForce TUNA,TUNA,
 TR-TUNA, VITA
 Standard: ScanAsyst, Nanomechanical
 Mapping, TappingMode (air), TappingMode
 (fluid), PhaseImaging, Contact Mode,
 Lateral Force Microscopy, Lift Mode,
 MFM, EFM, Force Spectroscopy, Force
 Volume
 Optional:
Nanoindentation,
 Nanomanipulation, Nanolithograpy,
 Surface Potential, Piezoresponse
 Microscopy
 Certification
 认证
 CE

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