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电子显微镜 >> 扫描探针显微镜/SPM(原子力显微镜)
MultiMode® 8原子力显微镜
MultiMode® 8原子力显微镜图片
型号: MultiMode® 8
品牌: 布鲁克
产地: 德国
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型号:MultiMode® 8
品牌:布鲁克
产地:德国
仪器种类:原子力显微镜
样品尺寸:直径 15mm × 厚度 5mm
产品介绍

高分辨成像的业界标杆

  MultiMode 8 with glovebox for research
  requiring demanding environmental control.

无与伦比的应用灵活性,高水平论文的发表
  • 最高分辨率成像和定量的材料性能成像。
  • 提供多模块强大功能的MultiMode
  • 世界上发表论文最多的AFM
  • 由创新的峰值力模式实现

MultiMode8系统卓越的性能源于其紧凑坚固的机械设计与先进的低噪音SPM控制电路。SPM系统性能的优劣很大程度取决于样品与探针之间的机械路径长度,路径越短受声学和振动噪音的影响越小,同时受到热漂移的影响也越小。另外SPM各功能部件组装稳定性也会影响仪器性能。对仪器细节的考量和技术的不断革新,提升了 Multimode系列仪器性能。SPM控制器是保证系统高性能的另一个关键因素,第五代NanoScope V控制器具有先进的数字架构:高数据带宽,低噪声数据采集和无与伦比的数据处理能力,布鲁克采用最先进技术, ScanAsyst模式 & PeakForce QNM模式,帮助研究者在各研究领域取得更多研究成果。
 
ScanAsyst自动成像软件,适用于大气和溶液各种扫描条件. ScanAsyst采用智能计算方法,连续监控图像质量,根据反馈做出适当的参数调整,系统自动化而完成这一系列工作,为用户提供更快捷优异的测量结果,也大大降低了对操作者的技术要求。全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比,在其速度提高6倍时仍不损失图像分辨率,获得超高分辨的AFM图像。PeakForceQNM, Bruker独有的纳米尺度机械性能的定量测量,提供更加准确的材料弹性模量和粘附性的测量结果,同时也有利于保持样品和针尖的完整性。

AFM性能的完美诠释
MultiMode®是世界上最受欢迎的扫描探针显微镜,得到客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode®扫描探针显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率,完备的仪器性能,以及得到充分验证的数据可靠性,奠定了其在AFM领域的领导地位。

简便易行,轻松获得专业结果
  • 使用最新的自动扫描成像模式ScanAsyst™,研究人员不必再去繁琐地调整Setpoint、反馈增益和扫描速度等参数,不论是在大气下还是在溶液中,都可以轻松获得高质量图像。
  • 在溶液环境下扫描更简便易行,它无需进行寻找探针的共振频率,ScanAsyst始终直接控制针尖样品间的作用力,这样可以消除Setpoint。

功能强大的定量成像模式
  • Bruker专利的新型成像模式PeakForce™ QNM™,可以对材料纳米尺度的力学性质进行定量检测,在正常的扫描速率下获得高分辨率的材料粘附力和弹性模量图像。与传统的相位成像和某些厂家的多频技术不同的是,使用Peakforce™ QNM™模式可获得精确、定量的实验数据。
  • PeakForce TUNA™模块,能够定量测量样品的导电特性,这是传统的导电模式所不能实现的。
  • 全新推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比,在其速度提高6倍时仍不损失图像分辨率,获得超高分辨的AFM图像。最快扫描速度,可比传统的AFM提高20倍。

具有最高的分辨率和测试性能
  • 迄今为止,利用MultiMode系列原子力显微镜,已发表大量高水平论文,帮助科学家们解决了
  • 诸多重大前沿科研问题。MultiMode8采用结构紧凑的刚性设计,即使样品的测试难度大,测试条件极为苛刻,也能实现低系统噪音,获得超高分辨率的图像。
  • NanoScope®V控制器提供业界最低的系统噪音和无可比拟的超高带宽,大大提高了数据分析能力,适用于更多的研究领域。
  • Bruker独创的Peak Force Tapping® 技术,精确控制针尖与样品的作用力,可远低于TappingMode™所需要的力。
 
功能完备,适用于各研究领域
  • 大气或者溶液环境中,MultiMode 8都能够完成样品检测,以其超高分辨率和卓越完备的功能,被广泛应用于物理、化学、材料、电子以及生命科学等各个领域。
  • 在MultiMode 8上可选配温度调节和环境控制附件。加热到250°C,冷却至-35°C,或在水蒸气和氧气含量小于1ppm的手套箱中,都可以实现敏感样品的检测和成像。
  • MultiMode8基本操作模式的基础上选配不同功能的附件,可在高分辨成像的同时,获得样品的力学、电学、磁学、热力学等各项性能指标

Configuration Options
SPM Controller Heads
(select one)
Standard – supports all modes except application modules;
Application module ready – supports optional application modules;
Non-magnetic application module ready – supports use in magnetic fields
Scanners
(select at least one)
AS-0.5 scanner – 0.4μm x 0.4μm XY and 0.4μm Z range;
AS-12 scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (non-vertical engage);
AS-12VLR scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (vertical engage), features improved liquid resistance and 4-year warranty against liquid damage;
AS-130VLR scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (vertical engage), features improved liquid resistance and 4-year warranty against liquid damage;
AS-12NM scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (non-vertical engage), features non-magnetic construction for use in magnetic fields;
AS-130NM scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (non-vertical engage), features non-magnetic construction for use in magnetic fields;
PicoForce scanner – 40μm x 40μm XY and 20μm Z range, features large, closed-loop Z range for force spectroscopy applications;
MMAFMXYZ – 100μm x 10μm XY and 15μm Z range, closed-loop operation in XY and Z, not recommended for imaging in liquids
Standard AccessoriesIncluded with all MultiMode 8 system configurations:
OMV, Optical microscope with 10X objective for viewing tip, sample, and laser, (video output is displayed within NanoScope software);
Probe holder for most imaging applications in air, includes tip bias connection;
Probe holder for torsional resonance mode (TRmode);
MFM starter kit with probes and training samples;
Calibration grating for scanner calibration;
Selection of common probe types
Optional AccessoriesOptionally available with all MultiMode 8 system configurations:
Probe holder for most imaging applications in liquids;
ScanAsyst-HR probe holder to enable high-speed ScanAsyst imaging in air;
PeakForce QNM technology for quantitative mapping of material properties;
Sample heater with ambient to 60°C range (compatible with all scanners above);
Sample heater-cooler with -35 to 250°C range (includes integrated scanner with 125μm x 125μm XY and 5μm Z range);
Environmental control hood for imaging in inert gases or under controlled humidity;
STM head, standard and ultra-low current versions;
Universal bipotentiostat for electrochemistry applications (ECAFM and ECSTM);
PeakForce TUNA application module;
Conductive AFM (CAFM) application module;
Tunneling AFM (TUNA) application module;
Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM) application module;
Scanning Capacitance Microscope (SCM) application module;
Nanoindentation with diamond indenter probe;
Force modulation probe holder for force modulation imaging in air;
Signal Access Module for input/output access to analog control and data signals
Vibration Isolation*
(select one or
 customersupplied
 equivalent)
VT-102, air table, 24in. square x 31in. tall (requires compressed air);
VT-50, passive isolation platform, 16.75in. square x 8.5in. tall (no air required);
TRVI, tripod with elastic cord isolated platform (OMV cannot be placed on platform);
*Please request a copy of the facility requirements from your local sales manager
System Specifications
Imaging Noise Level<0.3Å RMS (Z noise using TappingMode in air at zero scan size)
Maximum Sample Size15mm diameter x 5mm thick
Regulatory CertificationCE compliant
Laser ClassificationClass 2M, 1mW maximum at 690nm (IEC and US CDRH)

 Note: Configuration options and system specifications are subject to change without notice.

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